▲IEEE43-2000推薦使用者可以使用MIT1020/2來測試額定超過12KV的電動(dòng)機(jī)的繞組。
▲雙路電源輸入設(shè)計(jì):可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電,也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測試的場所不清楚是否有電源或者測試周期不清楚的時(shí)候,都可以來進(jìn)行測試。
▲數(shù)字/模擬雙顯示測試結(jié)果
▲測試電壓由50V 至10KV 可調(diào)
測試電壓在50V-1000V 的范圍里以10V(步進(jìn))微調(diào),1000V-10000V的范圍里以25V(步進(jìn))微調(diào)。
▲絕緣電阻測量測試范圍擴(kuò)展為35TΩ,用于對高質(zhì)量絕緣材料的絕緣趨勢分析等。
▲短路電流:3mA
▲抗干擾:2mA rms
▲全新設(shè)計(jì)的背光LCD顯示屏使操作者在陽光下或者光線很暗的情況下輕松讀出數(shù)據(jù)。
▲絕緣電阻測試儀顯示的信息:絕緣阻值,實(shí)時(shí)測試電壓,泄漏電流,等效電容,電池狀態(tài)和時(shí)間常數(shù)。同時(shí),每次測試時(shí)LCD上還會(huì)顯示已測試時(shí)間,這就不需要在測試時(shí)額外計(jì)時(shí)。
▲絕緣電阻測試儀內(nèi)置了多個(gè)計(jì)時(shí)器,還具備絕緣測試設(shè)限告警功能。
▲儀器上還帶有一個(gè)接地端子,使儀器能提高其精確性。
▲儀器的標(biāo)號分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊,方便儲存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。
▲儀器的控制的操作都清楚的寫在儀器隨機(jī)器附帶的說明書里面。
MIT1020/2美國Megger (AVO)絕緣電阻測試儀MIT1020/2產(chǎn)品功能:
內(nèi)置多種自動(dòng)測試程序:
▲IR 絕緣電阻測試、
▲DAR 吸收比測試 (介電吸收率)、
▲PI 極化指數(shù)測試、
▲SV 步進(jìn)電壓(跨步電壓)測試
▲DD 測試 (介質(zhì)放電))
▲測試上限擴(kuò)展:35TΩ
▲提供USB與RS232接口下載數(shù)據(jù)
▲儀器內(nèi)置32KB存儲器可保存測試結(jié)果:存儲測試電壓,預(yù)設(shè)時(shí)間,泄漏電流,絕緣電阻,極化指數(shù),DAR,DD,等效電容,時(shí)間常數(shù)。
產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo):
電源 | 95-240V,50/60 Hz 60VA |
電池使用時(shí)間 | 在 10KV 狀態(tài)下,進(jìn)行4小時(shí)連續(xù)測試 |
測試電壓(DC) | 1KV-10KV,每 25V 步進(jìn) |
精度 | ± 5% 1 TΩ |
(23°C) | ± 20% 20 TΩ |
顯示范圍 | 數(shù)字顯示 10 KΩ 到 35 TΩ |
模擬顯示 100 KΩ 到 1 TΩ |
短路電流/ | 3mA |
充電電流 |
電容充電時(shí)間 | ≤5秒/µF @ 3mA |
電容放電時(shí)間 | 放電從 10000V 到 |
50V ≤250 ms/µF |
電容測量 | 10nF 到 50µF(取決于測量電壓) |
電容測量精度 | ± 5% ± 5nF |
(23°C) |
電壓輸出精度 | 基本測試電壓的 +4% @ 1GΩ |
(0°C-30°C) | ±25V非標(biāo)測試電壓(<500V) |
測試電流范圍 | 0.01mA to 5mA |
測量電流精度 | ± 5% ± 0.2mA @ 各種電壓量程 |
(23°C) |
抗干擾 | 2mA rms |
主計(jì)時(shí)器量程 | 99分鐘59秒 |
導(dǎo)線 | 3條測試導(dǎo)線,帶絕緣夾頭 |
內(nèi)存容量 | 32KB |
內(nèi)置測試程序 | 自動(dòng)IR,PI,DAR,DD,SV |
數(shù)據(jù)存儲 | 存儲測試電壓,預(yù)設(shè)時(shí)間,泄漏電流,絕緣電阻,極化指數(shù),DAR,DD,等效電容,時(shí)間常數(shù) |
工作溫度 | -10°C-+50°C |
儲存溫度 | -25℃- +65℃ |
濕度 | 90% RH非凝固@40℃ |
保護(hù)等級 | IP65 |
安全標(biāo)準(zhǔn) | 符合EN61010- 1:2001 CATIII 300V |
EMC | 符合EN61326-1:1998 |
外形尺寸 | 305mm ×194 mm ×360 mm |
重量 | 約7.1公斤 |
產(chǎn)品持有證書 | CE |
絕緣電阻測試儀測試指標(biāo)名詞解釋 | |
(PI) | 極化指數(shù)測試 | |
極化指數(shù):在同一次試驗(yàn)中,10min時(shí)的絕緣電阻值與1min時(shí)的絕緣電阻值之比。 | |
|
(DAR) | 感應(yīng)吸收比(誘電吸收比)測試 | |
吸收比:在同一次試驗(yàn)中,60s時(shí)的絕緣電阻值與15s時(shí)的絕緣電阻值之比。 | |
|
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(SV) | 步進(jìn)電壓測試 | |
(DD) | 介質(zhì)放電(誘電體放電) | |
絕緣電阻,吸收比,極化指數(shù)之間的關(guān)系 當(dāng)說吸收比時(shí),應(yīng)該說到絕緣電阻極化指數(shù)。 絕緣電阻:在絕緣結(jié)構(gòu)的兩個(gè)電極之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該對電極的泄漏電流值之比。R=U/I,常用單位:(MΩ)兆歐 |
10KV系列絕緣電阻測試儀選型及功能對照表
產(chǎn)品型號 | MIT1020/2 | S1-1052/2 | S1-1054/2 |
絕緣電壓測試范圍 | | | |
50~10,000V(可步進(jìn)調(diào)節(jié)) | ▲ | ▲ | ▲ |
絕緣測試 | | | |
絕緣電阻測試顯示范圍(zui大顯示數(shù)字讀數(shù)) | 35 T Ω | 35 T Ω | 35 T Ω |
絕緣電阻測試顯示范圍(zui小顯示數(shù)字讀數(shù)) | 10 k Ω | 10 k Ω | 10 k Ω |
絕緣電阻測試顯示范圍(zui大顯示模擬讀數(shù)) | 1 T Ω | 1 T Ω | 1 T Ω |
絕緣電阻測試顯示范圍(zui小顯示模擬讀數(shù)) | 100 k Ω | 100 k Ω | 100 k Ω |
功能 | | | |
zui大輸出電流 | 5mA | 5mA | 5mA |
短路電流 | 3mA | 5mA | 5mA |
抗干擾抑制 | 2mA | 2mA | 4mA |
自動(dòng)進(jìn)行試品IR泄漏電流測試 | ▲ | ▲ | ▲ |
自動(dòng)測量絕緣電阻 | ▲ | ▲ | ▲ |
DAR吸收比測試(介電吸收率) | ▲ | ▲ | ▲ |
PI 極化指數(shù)測試 | ▲ | ▲ | ▲ |
SV 步進(jìn)電壓(跨步電壓)測試 | ▲ | ▲ | ▲ |
DD 測試 (介質(zhì)放電)測量 | ▲ | ▲ | ▲ |
內(nèi)置定時(shí)器器 | ▲ | ▲ | ▲ |
內(nèi)置32KB存儲器 | ▲ | ▲ | ▲ |
顯示 | | | |
數(shù)字和模擬雙重顯示 | ▲ | ▲ | ▲ |
顯示測試電壓 | ▲ | ▲ | ▲ |
顯示試品充電時(shí)間 | ▲ | ▲ | ▲ |
顯示充電電流 | ▲ | ▲ | ▲ |
顯示時(shí)間 | ▲ | ▲ | ▲ |
▲絕緣電阻測試儀內(nèi)置五種可設(shè)置工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)絕緣測試程序,可實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測試,提供全部分析結(jié)果:
▲絕緣電阻測試儀外殼由硬塑聚炳烯制造,由于在生產(chǎn)過程中經(jīng)過特殊處理,因此特別堅(jiān)固耐用,而且輕巧便于攜帶,符合IP65標(biāo)準(zhǔn)。